ACADSTAFF UGM
| Title | : | Kajian Ellipsometry pada Lapisan Tipis Nanopartikel Magnetik Fe3O4 untuk Aplikasi Biosensor |
| Author | : |
Muhammad Arifin, S.Si., M.Sc., Ph.D. (1) |
| Date | : | 2015 |
| Abstract | : | Telah dibangun sistem pengamatan optik berbasis ellipsometri dengan panjang gelombang tunggal (laser HeNe, ? = 543 nm). Teknik ellipsometry berdasarkan pada pengukuran perubahan amplitudo (?) dan perubahan fase (?) dari polarisasi cahaya yang dipantulkan. Indek bias (N) material dapat diekstrak dari ? dan ?. Pada sampel Perak2, kurva intensitas mengalami perubahan fase gelombang pada variasi sudut datang. Hasil penelitian menunjukkan nilai ? sekitar 450 dan tidak tergantung perubahan sudut datang sedangkan nilai ? pada logam berubah drastis pada kenaikan sudut datang. Indeks bias yang diperoleh pada sampel Perak 2 adalah n ?=0,1039+2,6743i pada sudut datang 75o. Pada lapisan Fe3O4, indeks bias bagian real dan imajiner sebagai fungsi dari ketebalan lapisan dan sudut datang pada sampel. Pada sudut datang 75o dan ketebalan 50 nm diperoleh nilai indeks bias kompleks n ?=1,662+4,4611i. Sistem ellipsometri dapat memperlihatkan perubahan indeks bias yang sangat kecil pada lapisan tipis Fe3O4 sehingga dapat diaplikasikan sebagai lapisan sensing pada sistem biosensor. |
| Group of Knowledge | : | Fisika |
| Original Language | : | |
| Level | : | Nasional |
| Status | : |
| No | Title | Action |
|---|